Description Buts et objectifs des tests. Défauts physiques et modèles de pannes. Génération de tests pour les circuits combinatoires, séquentiels et analogiques. Tests de matrices logiques programmables (PLA) et de mémoires. Simulation de défauts. Conception pour la testabilité structurée. Auto-test incorporé dans un circuit. Tests au niveau plaque; tests industriels. Techniques de mesure et de caractérisation.
